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武(wǔ)汉开云和芯源半导体首款车规级MCU,CW32A030C8T7通过AEC-Q100测试(shì)考(kǎo)核
近日,武汉开云和芯源(yuán)半导体正式发布首(shǒu)款基于(yú)Cortex®-M0+内核的CW32A030C8T7车(chē)规级MCU,这是武汉(hàn)开云和芯源(yuán)半导体首款(kuǎn)通过AEC-Q100 (Grade 2)车规标准的主流通(tōng)用型车(chē)规MCU产品。
CW32A030C8T7通(tōng)过AEC-Q100车规(guī)可靠(kào)性测试
作为武汉开云和芯源半导体首款车规级MCU产(chǎn)品,CW32A030C8T7产品顺(shùn)利通(tōng)过AEC-Q100(Grade2)车规级可靠(kào)性(xìng)测(cè)试,符合车用电子高可靠性和稳定性要求,可用于环境温度范围-40°C~105°C的(de)大(dà)部(bù)分(fèn)车载(zǎi)应用环(huán)境。
武(wǔ)汉开云和芯源半导体始终将(jiāng)安全可靠性要(yào)求放(fàng)在(zài)第一位(wèi),遵循(xún)AEC-Q100测(cè)试标准,进行了包括高温工作寿(shòu)命试(shì)验(HTOL)、早(zǎo)期失效率试(shì)验(ELFR)、静电放电(diàn)人体模型(xíng)(HBM)、静电放(fàng)电(diàn)充电装置(zhì)模型(CDM)、高温门领试验(LU-HT)、电磁(cí)兼容试验(EMC)等(děng)19项测试(shì)。同(tóng)时加强产(chǎn)品(pǐn)质量管(guǎn)控,将质量(liàng)管理渗(shèn)透到产(chǎn)品的(de)研发(fā)、制(zhì)造、销售(shòu)、技术服务(wù)等各个方面,确保产(chǎn)品高可靠度。
CW32A030C8T7车规MCU产品性能(néng)优势特(tè)性(xìng)
1、高(gāo)性能架构设计(jì)
CW32A030C8T7是基于ARM® Cortex®-M0+内核,采用Prefetch+Cache架构,以64MHz为量产测试保证,芯片配置(zhì)64K字(zì)节FLASH,8K 字节RAM,128字节OTP存储器。芯片(piàn)采(cǎi)用1.65~5.5V宽电压供(gòng)电,工作(zuò)温度范(fàn)围-40~+105℃。
2、丰富的外设(shè)接(jiē)口
为实现(xiàn)多样化的车身控制和互联(lián)应用(yòng),CW32A030C8T7集成了多种通信接口增强连接能力(lì)。
-支持多达三路低功耗UART、两路I2C、两路SPI接口;
-16位高级控制定时器、4组16位通用定时(shí)器,3组(zǔ)16位基(jī)本定时(shí)器;
-12位高精度ADC,采样速(sù)率可达1M SPS。
3、加密安全防护
增(zēng)加多级(jí)程序加密安(ān)全防护,妥善保(bǎo)护客户知识产权(quán)。
4、超强抗干扰(rǎo)能力
HBM ESD、MM ESD、CDM ESD、Latch up@105℃全面达到JEDEC最高等级。
全面、高效(xiào)的开发配套(tào)支持
CW32A030C8T7车规MCU配(pèi)套提供样品(pǐn)和(hé)开发板(bǎn),兼容(róng)Keil/IAR/GCC等多种主流集成开发环境(jìng)(IDE),并提供CW-DAPLINK调试工具和CW-Writer高效率量产工具。开发套(tào)件软件源码、硬件参考(kǎo)设(shè)计、应用笔记等技术(shù)文档配套齐(qí)全,已在官网开放下(xià)载。武汉开云和芯源(yuán)半导体提供线上公众号(hào)(武汉开云和芯源半导体、CW32生(shēng)态社(shè)区)、芯(xīn)源(yuán)CW32 MCU技术论坛等多个渠(qú)道(dào)的技(jì)术交流与(yǔ)支持服务。
广泛(fàn)的车身应用,丰富汽(qì)车电子智能体验
CW32A030C8T7车规MCU遵(zūn)循车规(guī)级设计理念和生产(chǎn)标(biāo)准,兼具通用(yòng)高性能(néng)、硬(yìng)件(jiàn)高(gāo)安全性和(hé)车规级高可(kě)靠性等优势特性,满足车规级产(chǎn)品对恶劣工作(zuò)环境的(de)适应性要求,帮助客户加速(sù)方案开(kāi)发、缩短产品量产(chǎn)时程。可应(yīng)用(yòng)于车(chē)身控制(zhì)、车用照(zhào)明、智能座舱、辅助驾驶及电机电源等多种电气化车用场(chǎng)景,为汽车电子领域带来更丰富的智能(néng)体验。
武汉开云和芯源半导体正式进入车规MCU市场
AEC-Q100测(cè)试考核是(shì)汽车(chē)电子委员会(Automotive Electronics Council)制定的(de)规(guī)范,主要针对车载应用的芯片进行严格的质量(liàng)与可靠性确认,以提高车载电子的稳定性和标准化(huà)。
由(yóu)于(yú)车规级芯片在(zài)可靠(kào)性(xìng)、安全性、使(shǐ)用寿(shòu)命(mìng)方面的要求高于消费级(jí)、工业级(jí)芯片,AEC-Q100测试考核(hé)门槛高、测试项目覆(fù)盖广、标(biāo)准极(jí)为严苛,是芯片产品(pǐn)进入汽车(chē)领域的重要(yào)通行(háng)证之一。
CW32A030C8T7车规MCU能通过AEC-Q100较(jiào)长周(zhōu)期下(xià)严格的可靠性测试和评估,代表该产(chǎn)品能够在恶劣的汽(qì)车(chē)环境下(xià)稳定(dìng)运行,可(kě)确保汽车的安全性和可靠性,能够获得汽车制造商(shāng)的认可。
有(yǒu)关芯片样品申请及购买事宜,请咨询武汉开云和芯源半导体的销(xiāo)售和官方(fāng)代理商。更多MCU详(xiáng)细信息,请访(fǎng)问武汉开云和芯源(yuán)半(bàn)导(dǎo)体官方(fāng)网站:https://www.whh5.qingyang.ww38.viennacitytours.com。
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